Рис.3. Дифракция на одной щели 2. Изучение интерференционных полос равного наклона и определение порядка интерференции. Для наблюдения полос равного наклона необходимо рейтер 5 (рис.2), с закреплённой на нем щелью, перенести на правый край скамьи. Рейтер 11, с установленным на нем микроскопическим объективом и экраном, переместить по скамье почти вплотную к лазеру, предварительно развернув экран на пол оборота вокруг вертикальной оси (для этого ослабить винт 14). При юстировке микроскопического объектива 17 и экрана относительно пучка света, используются винты 14 (по вертикали и вокруг вертикальной оси) и 13 (по горизонтали). Перпендикулярность рабочих поверхностей плоскопараллельной пластинки 21 оптической оси системы достигается вращением винтов 18 и 19 рейтера 20. Расстояние между экраном (он расположен в фокальной плоскости объектива) и пластинкой определяется совершенно аналогично упр.1 по формуле 1. Высокая степень монохроматичности излучения лазера позволяет осуществить наблюдение интерференционных полос равного наклона при