Исследование поверхностей тонких пленок органических полупроводниковых материалов методами сканирующей зондовой микроскопии | Элис ПГНИУ

PDF Открыть

Авторы:

Колесов М.М. cover

Харин А.Н. cover

Лунегов И.В.

Серия:

Физика для Пермского края

Выпуск (issue):

6

Дата публикации:

2013

Классификация:

Научная статья

Теги:

Научная статья

В открытом доступе

Возможно вам понравится