primary logosecondary logo

Рентгенографическое исследование тонкой структуры твердых тел

?
Оглавление
Введение . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Исследование
тонкой
кристаллической
структуры вещества
§ 1. Физические факторы, влияющие на ширину
дифракционных линий . . . . . . . . . . . . . . . .
§ 2. Метод аппроксимации . . . . . . . . . . . . . . . .
Определение физической ширины линии
с применением эталона . . . . . . . . . . . . . . .
Определение размеров блоков или величины
микроискажений решетки в случае, когда на
ширину линии влияет только один из
физических факторов . . . . . . . . . . . . . . . .
Определение
отдельных
составляющих
физической ширины β . . . . . . . . . . . . . . .
Фактор анизотропии напряжений . . . . . . . . .
Графический метод определения величины
блоков и искажений решетки . . . . . . . . . . .
Точность метода и выбор оптимальных условий
эксперимента . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
§ 3. Метод гармонического анализа . . . . . . . . . . .
Краткие сведения о разложении периодической
функции в ряд Фурье . . . . . . . . . . . . . . . .

3

5
5
15
15

24
27
35
35
36
46
46