Оглавление Введение . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Исследование тонкой кристаллической структуры вещества § 1. Физические факторы, влияющие на ширину дифракционных линий . . . . . . . . . . . . . . . . § 2. Метод аппроксимации . . . . . . . . . . . . . . . . Определение физической ширины линии с применением эталона . . . . . . . . . . . . . . . Определение размеров блоков или величины микроискажений решетки в случае, когда на ширину линии влияет только один из физических факторов . . . . . . . . . . . . . . . . Определение отдельных составляющих физической ширины β . . . . . . . . . . . . . . . Фактор анизотропии напряжений . . . . . . . . . Графический метод определения величины блоков и искажений решетки . . . . . . . . . . . Точность метода и выбор оптимальных условий эксперимента . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . § 3. Метод гармонического анализа . . . . . . . . . . . Краткие сведения о разложении периодической функции в ряд Фурье . . . . . . . . . . . . . . . . 3 5 5 15 15 24 27 35 35 36 46 46