Колесов М.М. | ELiS ПГНИУ

Исследование поверхностей тонких пленок органических полупроводниковых материалов методами сканирующей зондовой микроскопии

Авторы:

Колесов М.М. cover

Харин А.Н. cover

Лунегов И.В.

PDF Открыть